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中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)合肥先進(jìn)光源國家重大科技基礎(chǔ)設(shè)施項(xiàng)目-中能顯微譜學(xué)成像實(shí)驗(yàn)站真空機(jī)械以及低溫上樣傳樣系統(tǒng)公開招標(biāo)公告采購需求(中能顯微譜學(xué)成像實(shí)驗(yàn)站真空機(jī)械以及低溫上樣傳樣系統(tǒng)).pdf

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合肥市 2025-12-11 551.18KB 業(yè)主:中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)
內(nèi)容簡介

1采購需求一總體說明1本章所提出的技術(shù)要求是對本次招標(biāo)貨物及伴隨服務(wù)的基本要求,并未涉及所有技術(shù)細(xì)節(jié),也未充分引述有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)、規(guī)范的全部條款。投標(biāo)人應(yīng)保證其提供的貨物及伴隨服務(wù)除了滿足本技術(shù)要求外,還應(yīng)符合中國國家、行業(yè)、地方或設(shè)備制造商所在國的有關(guān)強(qiáng)制性標(biāo)準(zhǔn)、規(guī)范。當(dāng)上述標(biāo)準(zhǔn)、規(guī)范的有關(guān)規(guī)定之間存在差異時,應(yīng)以要求高的為準(zhǔn)。2本章中提及的工藝、材料、設(shè)備的標(biāo)準(zhǔn)及品牌或型號(如有)僅起說明作用,并沒有強(qiáng)制性。投標(biāo)人在投標(biāo)中可以用替代工藝、材料、設(shè)備的標(biāo)準(zhǔn)及品牌或型號,但這種替代須實(shí)質(zhì)上滿足、等同或優(yōu)于本章技術(shù)要求,同時須提供相關(guān)證明材料,否則可能被評標(biāo)委員會認(rèn)定為負(fù)偏離。3除“3技術(shù)要求”外,本章中所列內(nèi)容,均理解為采購人可接受的最低要求。4“3技術(shù)要求”的“322主要參數(shù)”中標(biāo)記“★”的技術(shù)指標(biāo)為實(shí)質(zhì)性要求,不接受負(fù)偏離,如有負(fù)偏離視為無效投標(biāo);未標(biāo)記技術(shù)指標(biāo)根據(jù)評標(biāo)辦法要求進(jìn)行評審。5“3技術(shù)要求”中未在“322主要參數(shù)”中列出的其他要求,可以在工藝設(shè)計(jì)(或類似設(shè)計(jì)過程中)優(yōu)化調(diào)整,調(diào)整內(nèi)容須經(jīng)采購人同意。合同價格及合同履行期限不因優(yōu)化調(diào)整而變動。6中標(biāo)的核心產(chǎn)品的數(shù)量、單價、規(guī)格等將予以公布。二技術(shù)規(guī)格要求1項(xiàng)目簡介中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)國家同步輻射實(shí)驗(yàn)室的合肥先進(jìn)光源(HefeiAdvancedLightFacility-HALF)裝置的定位是一臺國際先進(jìn)的基于衍射極限儲存環(huán)的低能區(qū)第四代同步輻射光源。儲存環(huán)能量22GeV,束流水平自然發(fā)射度約86pm?rad,具有國際同類裝置領(lǐng)先水平。HALF一期十條束線中的中能顯微譜學(xué)成像線站(BL09),是一條工作在21-10keV能量范圍的顯微譜學(xué)成像實(shí)驗(yàn)站。該實(shí)驗(yàn)站具備全場成像和相干成像兩種模式,可在真空環(huán)境下開展高空間分辨與快速顯微譜學(xué)成像研究,廣泛應(yīng)用于能源材料、生物細(xì)胞、地質(zhì)環(huán)境等領(lǐng)域。其硬件系統(tǒng)需滿足穩(wěn)定運(yùn)行、長時間真空保持以及自動傳樣(兼容低溫與常溫條件)的要求。本次采購內(nèi)容包括該實(shí)驗(yàn)站的真空腔體及支撐部件、探測器腔體及支撐部件、上樣及傳樣裝置。22需求明細(xì)21供貨清單中能顯微譜學(xué)成像實(shí)驗(yàn)站的布局示意圖如圖1所示,主要由一個主腔體(樣品腔)、一個超高真空探測器運(yùn)動臺和真空機(jī)械控制系統(tǒng)構(gòu)成,主腔體內(nèi)放置樣品臺、聚焦毛細(xì)管、聚焦波帶片、OSA、針孔、波帶片、相移環(huán)、伯特蘭透鏡等光學(xué)元件及相應(yīng)的位移臺。成像探測器安裝在波紋管后端一個腔體上。圖1中能成像實(shí)驗(yàn)站整體布局示意圖(供參考)投標(biāo)文件中應(yīng)提供實(shí)驗(yàn)站的初步設(shè)計(jì)方案,包括超高真空實(shí)驗(yàn)腔體、大理石底座和光學(xué)平臺、低溫上樣及傳樣部件、探測器真空運(yùn)動部件、相干成像探測器腔體及相應(yīng)的控制部件等;投標(biāo)人需交付的實(shí)驗(yàn)站設(shè)備清單如表1所示:表1中能顯微譜學(xué)成像實(shí)驗(yàn)站真空機(jī)械以及低溫上樣傳樣系統(tǒng)配置清單序號部件名稱分項(xiàng)主要構(gòu)成套數(shù)1真空腔體及支撐部件實(shí)驗(yàn)站腔體及支撐調(diào)節(jié)結(jié)構(gòu)包含真空腔體、大理石底座及六維安裝調(diào)整裝置、法蘭、視窗、真空電極饋通(VacuumElectrodeFeedthrough,簡稱Feedthrough)等、電磁閥、支撐波紋管及真空內(nèi)光學(xué)平臺。12探測器腔體及支撐部件相干成像探測器腔體包含真空腔體、及法蘭、視窗、電極饋通及水管接口預(yù)留。1探測器運(yùn)動臺、波紋管及隔振支撐包含二維運(yùn)動臺(分別用于相干成像探測器和全場成像探測器姿態(tài)調(diào)整)、DN150CF&DN63CF波紋管、光學(xué)平臺、大理石及六維安裝調(diào)整裝置、線纜拖鏈、冷阱及大行程直線推進(jìn)器(沿著光路方向)。13上樣及傳樣部件低溫上樣部件包含液氮杜瓦、金屬上樣裝置、真空系統(tǒng)及溫度監(jiān)控系統(tǒng)。1低溫樣品轉(zhuǎn)移部件包含液氮杜瓦、低溫樣品梭、傳樣桿(帶一個低溫抓手)。13低溫傳樣部件及低溫樣品臺低溫傳樣裝置包含真空腔體、液氮杜瓦、傳樣機(jī)械手、低溫樣品停放臺。低溫樣品臺包含杜瓦、冷指、隔熱模塊及高柔性銅辮子。14控制部件真空標(biāo)準(zhǔn)件(甲供)之外的全部真空、運(yùn)動控制、聯(lián)鎖保護(hù)的軟硬件部分。運(yùn)動控制部件包括運(yùn)功控制器、驅(qū)動器及控制軟件等。1水氣溫度泵規(guī)閥監(jiān)測與控制系統(tǒng)包括實(shí)驗(yàn)站主控系統(tǒng)和上樣裝置專用控制系統(tǒng)2聯(lián)鎖保護(hù)包括PLC等設(shè)備保護(hù)所需的軟硬件等。1表2中能顯微譜學(xué)成像實(shí)驗(yàn)站真空機(jī)械以及低溫上樣傳樣系統(tǒng)采購人提供的設(shè)備清單(以工藝評審確定的參數(shù)和數(shù)量為準(zhǔn))采購人提供部件名稱數(shù)量單位備注分子泵1批/干泵1批/插板閥1批/真空規(guī)及控制器1批/22配套服務(wù)配套服務(wù)包括工藝設(shè)計(jì)、部件測試、整體集成、離線安裝調(diào)試、現(xiàn)場安裝準(zhǔn)直和調(diào)試。23技術(shù)資料全套設(shè)備的三維模型、二維裝配圖紙以及關(guān)鍵部件詳細(xì)工程圖、設(shè)計(jì)報(bào)告、測試報(bào)告及使用說明書等。3技術(shù)要求及交付內(nèi)容(注:以下所列技術(shù)指標(biāo)如無特殊約定,均為交付最低指標(biāo)值)31實(shí)驗(yàn)站概述及坐標(biāo)定義HALF一期建有中能顯微譜學(xué)成像線站(BL09)。該線站擬開展快速全場成像和高分辨掃描相干成像,為了實(shí)現(xiàn)實(shí)驗(yàn)站光學(xué)、機(jī)械和電子元器件的放置以及冷凍和常溫樣品的傳遞,需要采購高穩(wěn)定性的真空機(jī)械以及低溫上樣傳樣系統(tǒng)。實(shí)驗(yàn)站的真空條件設(shè)計(jì)需要兼顧低中能(21-5keV)和中高能(5-10keV)X射線的各自特點(diǎn)和原位實(shí)驗(yàn)的便捷性,低中能時在真空環(huán)境中(10-4Pa)實(shí)驗(yàn),中高能時可以在氦氣氣氛環(huán)境中實(shí)驗(yàn)。坐標(biāo)定義:Y方向:沿著光路方向;Z方向:垂直光路豎直方向;X方向:垂直光路水平方向。32基本要求321中能顯微譜學(xué)成像實(shí)驗(yàn)站真空機(jī)械以及低溫上樣傳樣系統(tǒng)設(shè)計(jì)方案及基本要求投標(biāo)文件中應(yīng)提供實(shí)驗(yàn)站的初步設(shè)計(jì)方案,包括超高真空實(shí)驗(yàn)腔體、大理石底座和光學(xué)平臺、上樣及傳樣系統(tǒng)、樣品轉(zhuǎn)移裝置、波紋管系統(tǒng)和相干成像探測器腔體等,設(shè)計(jì)方案應(yīng)4闡明如何實(shí)現(xiàn)招標(biāo)設(shè)備的功能及關(guān)鍵評價指標(biāo),該方案將作為評標(biāo)中系統(tǒng)技術(shù)性能評價的重要內(nèi)容。322主要參數(shù):本次招標(biāo)設(shè)備為中能顯微譜學(xué)成像實(shí)驗(yàn)站真空機(jī)械以及低溫上樣傳樣系統(tǒng),具體指標(biāo)參數(shù)和要求如下表:表3實(shí)驗(yàn)站真空機(jī)械以及低溫上樣傳樣系統(tǒng)構(gòu)成及指標(biāo)參數(shù)序號部件名稱分項(xiàng)名稱構(gòu)成、指標(biāo)參數(shù)及要求1真空腔體及支撐部件1實(shí)驗(yàn)站腔體及支撐調(diào)節(jié)結(jié)構(gòu)11主腔體尺寸長≥800mm,寬≥800mm,高≥400mm;材質(zhì)304L不銹鋼,內(nèi)外電解拋光?!?2氦氣漏率≤5×10-9Torr·L/s。13SUB-D(9/15/25)feedthrough,(≥4個DN150CF法蘭)?!?4預(yù)留3路DN40CF法蘭口,有效通徑≥40mm,(用于六路光纖饋入)。15腔體與支撐花崗巖剛性固定鏈接。16腔體預(yù)留必要法蘭接口(進(jìn)光口DN35CF;出光口DN150CF;傳樣裝置、支撐波紋管、液氮杜瓦、調(diào)節(jié)位移臺及可見光、泵規(guī)閥,loadlock等)和一側(cè)開門。(具體個數(shù)和尺寸以工藝設(shè)計(jì)為準(zhǔn))★17腔體內(nèi)設(shè)置獨(dú)立平板(材質(zhì)殷瓦鋼4J36),厚度≥30mm,密布25mm×25mm×M6螺紋孔,用于安裝位移臺組件。18腔體支撐花崗巖和腔體內(nèi)運(yùn)行平臺支撐花崗巖,尺寸根據(jù)腔體尺寸確定,選用濟(jì)南青。192套大理石調(diào)節(jié)尺寸:X和Y方向:±20mm,精度:≤01mm;Z方向:±6mm(楔形調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)),精度:≤01mm。2探測器腔體及支撐部件21相干成像探測器腔體211探測器腔體尺寸長≥600mm,寬≥300mm,高≥200mm,材質(zhì)為304L不銹鋼,內(nèi)外電解拋光。★212氦氣漏率≤5×10-9Torr·L/s。213SUB-D(9/15/25)feedthrough214腔體預(yù)留必要法蘭接口(入光口DN150CF;出光口DN63CF;電極饋通、真空泵波紋管、探測器水冷、觀察窗、泵規(guī)閥,腔體接線與拖鏈鏈接等)。215腔體底板上預(yù)留探測器的夾持機(jī)構(gòu),用于安裝探測器。★221全場成像探測器波紋管內(nèi)徑≥63mm,相干成像探測器波紋管內(nèi)徑≥150mm。